| 中文名称 | 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） |
|---|---|
| 英文名称 | TOF-SIMS5iontof，PHINanoTOFII |
| 说明 | 【价格】900元/样起 |
| 特性 | 检测服务详情请咨询在线客服。 |
| 用途 | 通过一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。可做表面分析、剖析，mapping |
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